集成测试的⽅法有两种： ⾮增量式测试和增量式测试
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说⼈话就是：
⾮增量式是每个模块测试完了再连接增量式则是测⼀个模块，就连接⼀个模块
⽽采⽤增式测试时⼜有两种选择： ⾃顶向下结合、⾃底向上结合。⾃顶向下结合
主控模块作为测试驱动器；
根据集成的⽅式（深度或⼴度），下层的桩模块⼀个⼀个地被替换为真正的模块；在每个模块被集成时，都必须进⾏单元测试。重复第⼆步，直到整个系统结构被集成完成。⾃顶向下测试的优点在于
它可以⾃然地做到逐步求精，⼀开始就可以让测试者看到系统的框架，较早地验证了主要控制和判断点；按深度优先可以⾸先实现和验证⼀个完整的软件功能功能较早证实带来信⼼只⽤⼀个驱动，减少驱动开发⽀持故障隔离缺点在于
需要提供桩模块，桩开发量⼤；
在输⼊/输出模块接⼊系统以前，在桩模块中表⽰测试数据有⼀定的困难；底层验证被推迟；底层组件测试不充分。⾃底向上结合
⾃底向上增式测试表⽰逐步集成和逐步测试的⼯作是按结构图⾃下⽽上进⾏的， 由于是从最底层开始集成，因此不需要
使⽤桩模块来辅助测试 。⾃底向上测试的优点在于
由于驱动模块模拟了所有调⽤参数，即使数据流并未构成有向的⾮环状图，⽣成测试数据也没有困难；缺点在于
直到最后⼀个模块被加进去之后才能看到整个程序的框架。
桩函数
也叫stub函数，存根函数
⽤⼀个桩函数替换⼀些接⼝函数，⽤于测试当前函数的特性
⽐如，要测试⼀个函数f()1 void f()2 {
3 var = g(...);4 }
f()函数需要调⽤函数g()，但是在测试f()时可能还没写或测试通过g()函数
怎么办呢？可以写⼀个g()的存根(stub)函数，来模拟g()函数，⽐如让他只返回⼀个值，从⽽帮助完成对函数f（）的测试
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